溫度范圍100~+135
包裝木箱
電源220V/380V
顏色烤漆/不銹鋼
濕度100R.H/70~100R.H
高壓加速老化試驗(yàn)箱內(nèi)外箱均采用304不銹鋼板,圓型內(nèi)箱,不銹鋼圓型試驗(yàn)內(nèi)箱結(jié)構(gòu),符合工業(yè)容器標(biāo)準(zhǔn),可防止試驗(yàn)中結(jié)露滴水設(shè)計(jì)。圓幅內(nèi)襯,不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設(shè)計(jì),可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。Jing密設(shè)計(jì),氣密性良好,耗水量少,每次加水可連續(xù)200h。自動(dòng)門(mén)禁,圓型門(mén)自動(dòng)溫度與壓力檢知An全門(mén)禁鎖定控制,門(mén)把設(shè)計(jì),箱內(nèi)有大于常壓時(shí)測(cè)試們會(huì)被反壓保護(hù)。
試驗(yàn)箱產(chǎn)品特色:
1、具有自動(dòng)加水功能并且在試驗(yàn)過(guò)程中水位過(guò)低時(shí)自動(dòng)。
2、試驗(yàn)過(guò)程自動(dòng)運(yùn)轉(zhuǎn)至完成結(jié)束,使用簡(jiǎn)便。
3、溫度控制:LED數(shù)字型溫度控制器可作Jing確試驗(yàn)溫度之設(shè)定、控制及顯示。
4、定時(shí)器:LED數(shù)字型定時(shí)器,當(dāng)鍋內(nèi)溫度到達(dá)后才開(kāi)始計(jì)時(shí)以確保試驗(yàn)完全。
5、Jing準(zhǔn)的壓力/溫度表隨時(shí)顯示鍋內(nèi)壓力與相對(duì)溫度。
6、運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)流水器自動(dòng)排出未飽和蒸氣以達(dá)到好的蒸氣品質(zhì)。
7、一體成型硅膠門(mén)墊圈,氣密度良好,且使用壽命長(zhǎng)。
8、內(nèi)經(jīng)拋光處理美觀(guān)不沾污。
試驗(yàn)箱性能:
1.溫度范圍:100℃~135℃可設(shè)定.
2.濕度范圍:RH.(飽和蒸氣濕度)
3.壓力范圍:0.0Kg/cm2~3.00Kg/cm2jue對(duì)壓力;(安全壓力容量3Kg/cm2/G=1個(gè)環(huán)大氣壓+2Kg/cm2)
4.時(shí)間范圍:0~1000H
5.溫度分布:(+/-)2.0℃%(100℃)
6.升溫時(shí)間:RT~121℃約35分鐘內(nèi)
7.加壓時(shí)間:0.0Kg/cm2~1.00Kg/cm2約35分鐘內(nèi)
試驗(yàn)箱執(zhí)行與滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn):
1.GB/T10586-1989濕熱試驗(yàn)室技術(shù)條件;
2.GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定濕熱試驗(yàn);
3.MIL-STD810D方法502.2;
4.GJB150.9-8溫濕試驗(yàn);
5.GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度、高壓組合循環(huán)試驗(yàn);
試驗(yàn)箱特點(diǎn):
1、內(nèi)外箱均采用304不銹鋼板,圓型內(nèi)箱,不銹鋼圓型試驗(yàn)內(nèi)箱結(jié)構(gòu),符合工業(yè)安全容器標(biāo)準(zhǔn),可防止試驗(yàn)中結(jié)露滴水設(shè)計(jì)。
2、圓幅內(nèi)襯,不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設(shè)計(jì),可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。
3、設(shè)計(jì)可靠,氣密性良好,耗水量少,每次加水可連續(xù)200h。
4、自動(dòng)門(mén)禁,圓型門(mén)自動(dòng)溫度與壓力檢知安全門(mén)禁鎖定控制,安全門(mén)把設(shè)計(jì),箱內(nèi)有大于常壓時(shí)測(cè)試們會(huì)被反壓保護(hù)。
5、型packing,箱內(nèi)壓力愈大時(shí),packing會(huì)有反壓會(huì)使其與箱體更緊密結(jié)合,與傳統(tǒng)擠壓式完全不同,可延長(zhǎng)packing壽命。
6、實(shí)驗(yàn)開(kāi)始前之真空動(dòng)作可將原來(lái)箱內(nèi)之空氣抽出并吸入過(guò)濾蕊過(guò)濾之新空氣(partical<1micorn)。以確保箱內(nèi)之純凈度。
7、臨界點(diǎn)LIMIT方式自動(dòng)安全保護(hù),異常原因與故障指示燈顯示。
高壓加速老化試驗(yàn)箱目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如:溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等),加快試驗(yàn)過(guò)程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件和機(jī)械零件的磨耗和使用壽命的問(wèn)題,使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。
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